Содержимое раздела
Данный раздел посвящен теоретическим основам методов исследования нанообъектов и наносистем. Рассматриваются физические принципы, лежащие в основе работы различных методов микроскопии, таких как атомно-силовая микроскопия (АСМ) и сканирующая туннельная микроскопия (СТМ). Обсуждаются основы спектроскопических методов, таких как рамановская спектроскопия и инфракрасная спектроскопия, а также их применение для анализа наноматериалов. Рассматриваются принципы рентгеновской дифракции и ее возможности для определения структуры нанообъектов.