Данный доклад посвящен подробному изучению матричных методов, используемых для описания и анализа многополюсников в СВЧ-диапазоне, представляющих собой сложные радиоэлектронные устройства. Рассматриваются различные типы матриц, такие как матрицы рассеяния (S-параметры), импедансные (Z-параметры) и адмиттансные (Y-параметры), а также их применение для характеризации устройств. Особое внимание уделяется практическим аспектам использования матричного аппарата в задачах проектирования и оптимизации СВЧ-устройств, включая расчеты параметров цепей и моделирование их поведения. В докладе будут представлены способы преобразования между различными типами матриц, что позволит упростить анализ и синтез многополюсников..