Содержимое раздела
Этот раздел посвящен электронной микроскопии, мощному методу для изучения наноструктур. Будут рассмотрены основные принципы работы просвечивающей и растровой электронной микроскопии, включая взаимодействие электронов с образцом и формирование изображения. Описывается подготовка образцов для ПЭМ и РЭМ, а также типы детекторов и режимы работы. Обсуждаются области применения (например, изучение морфологии, кристаллической структуры, элементного состава), а также преимущества и недостатки методик (разрешение, подготовка образцов, артефакты).