Содержимое раздела
В этом разделе будет подробно рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии, включая основные компоненты и их функции. Будет объяснено, как происходит сканирование образца, измерение сил взаимодействия между зондом и поверхностью, а также формирование изображения. Будут описаны различные режимы работы АСМ, такие как контактный, полуконтактный и неконтактный режимы, и их особенности. Особое внимание будет уделено физическим принципам, лежащим в основе работы АСМ, включая взаимодействие Ван-дер-Ваальса, капиллярные силы и другие факторы, влияющие на процесс сканирования.