Содержимое раздела
Этот раздел описывает конкретную методику, используемую для анализа компонентного состава периферийных устройств. Подробно описываются методы отбора образцов, подготовки к анализу, используемое лабораторное оборудование (например, рентгенофлуоресцентный анализ, спектроскопия), а также алгоритмы обработки результатов. Описаны меры предосторожности, необходимые при работе с химическими реактивами и оборудованием. Будут рассмотрены возможные источники ошибок и способы их минимизации.