Содержимое раздела
В этом разделе будут рассмотрены основные понятия кристаллографии, включая типы кристаллических решеток, элементы симметрии, законы кристаллической оптики и дифракции. Подробно описаны 7 систем симметрии, их характеристики и примеры кристаллов, принадлежащих к каждой системе. Рассматривается понятие элементарной ячейки, ее параметры и влияние на свойства кристаллов. Обсуждаются методы определения структуры кристаллов, такие как рентгеноструктурный анализ и нейтронная дифракция.