Содержимое раздела
В этом разделе будет описан комплекс методов, используемых для характеризации структуры и свойств тонких пленок CaF₂, включая рентгеновскую дифракцию, сканирующую электронную микроскопию, атомно-силовую микроскопию, спектроскопию и импедансную спектроскопию. Для каждого метода будут описаны принципы работы, область применения и возможности получения информации о структуре, морфологии, составе и свойствах пленок. Будет проведено обоснование выбора конкретных методов для решения задач проекта.