Содержимое раздела
В данном разделе будет представлено подробное описание используемых материалов (Au, Ga₂O₃, n-GaAs), методов синтеза наноструктур (например, электронно-лучевая литография, осаждение из газовой фазы), методов характеризации их морфологии и состава (например, сканирующая электронная микроскопия, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия), а также методов измерения фотоэлектрических свойств (например, вольт-амперные характеристики, спектральная чувствительность). Будет описан порядок проведения эксперимента и обработки полученных данных.