Содержимое раздела
В этом разделе мы подробно рассмотрим теоретические основы кристаллографии, включая основные типы кристаллических решеток (простая, объемно-центрированная, гранецентрированная, гексагональная и др.), их симметрии и параметры ячейки. Мы изучим законы дифракции рентгеновских лучей, которые лежат в основе современных методов анализа кристаллических структур, а также принципы построения и интерпретации дифракционных картин. Будут рассмотрены понятия кристаллографических плоскостей, направлений и осей.