Содержимое раздела
Рассматриваются различные методы, используемые для характеристики наноматериалов. Включает в себя электронную микроскопию (просвечивающую, сканирующую), рентгеновскую дифракцию, атомно-силовую микроскопию, спектроскопические методы (ИК, Раман, УФ-Вид). Описываются принципы работы каждого метода, его возможности и ограничения, а также способы подготовки образцов. Анализируются данные, получаемые с использованием этих методов, для определения структуры, морфологии, состава и других характеристик наноматериалов.