Содержимое раздела
В этом разделе описываются различные методы и инструменты, используемые для проведения патентного поиска и анализа патентной документации. Рассматриваются основные патентные базы данных (например, USPTO, EPO, WIPO) и алгоритмы поиска по ключевым словам, классификаторам и другим параметрам. Описываются методы анализа патентных претензий, выявления существующих аналогов и оценки патентного ландшафта. Рассматриваются инструменты для визуализации патентных данных и выявления трендов в развитии технологий.