Содержимое раздела
Этот раздел посвящен методам характеризации структуры и свойств нано-материалов. Описываются основные методы, такие как электронная микроскопия (просвечивающая и сканирующая), атомно-силовая микроскопия, рентгеновская дифракция, спектроскопия (УФ-Vis, фотолюминесценция, Раман) и др. Анализируются принципы работы каждого метода, его преимущества и недостатки, а также способы интерпретации полученных данных. Важно показать, как различные методы характеризации позволяют получить комплексную информацию о структуре и свойствах нано-материала.