Содержимое раздела
В данном разделе будут подробно рассмотрены физические основы криоэлектронной микроскопии, включая взаимодействие электронов с веществом, формирование изображения и принципы работы электронного микроскопа. Будут описаны основные типы электронных микроскопов, используемых в крио-ЭМ, и их характеристики. Особое внимание будет уделено методам подготовки образцов для крио-ЭМ, таким как быстрое замораживание и витрификация, а также методам стабилизации образцов и предотвращения их повреждения в процессе облучения электронами.