Содержимое раздела
В этом разделе будет рассмотрены основные методы, используемые для характеризации наноматериалов, такие как сканирующая электронная микроскопия (SEM), просвечивающая электронная микроскопия (TEM), атомно-силовая микроскопия (AFM), рентгеновская дифракция (XRD) и спектроскопия. Будут описаны принципы работы каждого метода, его возможности и ограничения, а также примеры применения для анализа структуры, состава и свойств наноматериалов. Необходимо описать как правильно интерпретировать полученные данные для корректной оценки свойств полученных материалов.