Содержимое раздела
В этом разделе будут рассмотрены основные методы исследования структуры и свойств наноматериалов, включая электронную микроскопию (СЭМ, ПЭМ), атомно-силовую микроскопию (АСМ), рентгеновскую дифракцию (РДА), спектроскопию (УФ-видимую, ИК, Раман) и другие методы. Описаны принципы работы каждого метода, а также информация о возможности анализа формы, размера, химического состава и кристаллической структуры наноматериалов. Особое внимание будет уделено методам, позволяющим исследовать свойства наноматериалов in situ, то есть в реальных условиях эксплуатации.