Содержимое раздела
Обзор физических принципов, лежащих в основе работы микроскопов, включая оптическую микроскопию, сканирующую зондовую микроскопию и другие типы. Рассмотрение основных параметров, влияющих на качество изображения, таких как разрешение, контраст, глубина резкости. Анализ различных методов освещения образцов, применяемых в метрологических микроскопах. Изучение принципов формирования изображения и измерения размеров на микроскопическом уровне. Описание различных типов объективов и их характеристик, а также методов корректировки аберраций.