Данный исследовательский проект посвящен разработке методики прогнозирования долговечности элементной базы электронных устройств на основе анализа экспериментальных данных. Проблема старения и выхода из строя электронных компонентов является критической для обеспечения надежности и долговечности аппаратуры в различных областях, от промышленности и энергетики до космических исследований и обороны. В рамках данного проекта будет проведен анализ данных, полученных в результате экспериментальных исследований, включающих в себя различные методы воздействия на элементы, такие как температурные перепады, вибрации и электрические нагрузки. Целью работы является создание математической модели, позволяющей предсказывать остаточный ресурс элементов с заданной точностью, учитывая различные факторы воздействия и режимы эксплуатации. Особое внимание будет уделено оптимизации алгоритмов обработки данных и визуализации результатов, для обеспечения удобства использования полученной модели. В ходе исследования будут рассмотрены различные типы электронных компонентов, включая резисторы, конденсаторы, транзисторы и интегральные схемы, что позволит получить универсальную методику прогнозирования.