Содержимое раздела
Этот раздел посвящен электронной микроскопии, мощному инструменту для изучения растительных клеток на субклеточном уровне. Рассматриваются два основных типа электронной микроскопии: просвечивающая (ПЭМ) и сканирующая (СЭМ). Подробно описываются принципы работы электронного микроскопа, методы подготовки образцов, включая фиксацию, проводку, заливку и ультратонкое срезание, а также методы контрастирования. Особое внимание уделяется способности электронной микроскопии визуализировать тонкие структуры.