"Физика (углублённый уровень)", Кабардин О.Ф., Глазунов А.Т., Орлов В.А. и др. / Под ред. Пинского А.А., Кабардина О.Ф.
Дифракция электромагнитных волн — их огибание препятствий и отклонение от прямолинейного распространения. Явление объясняется интерференцией вторичных волн, возникающих в разных точках волнового фронта. Дифракция хорошо заметна, если размер отверстия или препятствия сравним с длиной волны. Для одной щели находят минимумы по условию a sin θ = mλ, а дифракционная решётка позволяет получать узкие спектральные максимумы и измерять длины волн.
Текст подготовлен нейронной сетью по теме параграфа и не заменяет учебник — важные факты и формулировки сверяйте с ним.
Дифракция электромагнитных волн — огибание волной препятствий и отклонение от прямолинейного распространения с образованием интерференционной картины. Она показывает, где приближение геометрической оптики перестаёт работать.
Принцип Гюйгенса — Френеля утверждает, что каждая точка волнового фронта может рассматриваться как источник вторичной волны. Сложение этих волн определяет результирующее поле и объясняет появление светлых и тёмных участков.
Дифракционный минимум — направление, в котором вторичные волны гасят друг друга, поэтому интенсивность близка к нулю. Для щели шириной a его условие имеет вид a sin θ = mλ, где m — ненулевое целое число.
Дифракционная решётка — система большого числа параллельных щелей. Она создаёт резкие максимумы, по углам которых можно определить длину волны излучения.
Когда плоская волна проходит через отверстие, каждая точка открытой части фронта становится источником вторичной волны. У краёв отверстия такие волны распространяются не только вперёд, но и в стороны, поэтому часть излучения попадает в область геометрической тени. За препятствием аналогичную роль играют волны, возникающие у его краёв.
Вторичные волны приходят в разные точки пространства с различными фазами. Если их разности хода кратны длине волны, они усиливают друг друга и возникает максимум; при подходящей разности хода происходит гашение и появляется минимум. Поэтому дифракция не сводится к одному лишь «заворачиванию» волны: наблюдаемая картина формируется интерференцией.
Условие заметности связано с отношением размера отверстия к длине волны. Если отверстие намного больше длины волны, волны от соседних участков фронта почти не отклоняются в стороны, а основная энергия идёт прямо. Когда размеры сравнимы, боковое распространение становится существенным, и дифракционная картина хорошо наблюдается.
На одной щели в центре экрана образуется широкий и яркий центральный максимум. По обе стороны от него находятся более слабые боковые максимумы, разделённые минимумами; картина симметрична относительно направления прямого распространения. Первый минимум задаётся равенством a sin θ = λ, а последующие — a sin θ = mλ.
У решётки вторичные волны возникают сразу от множества щелей. В направлениях, где разность хода соседних волн равна целому числу длин волн, все вклады складываются, поэтому главные максимумы становятся яркими и узкими. Их положение задаётся формулой d sin θ = mλ, где d — период решётки, а m — порядок максимума.
В таблице сопоставлены две основные схемы наблюдения дифракции. При решении задач сначала определите, идёт ли речь о ширине одной щели a или о периоде решётки d. Затем выберите соответствующее условие и проверьте, допустимо ли полученное значение синуса.
| Свойство | Одна щель | Дифракционная решётка |
|---|---|---|
| Причина возникновения картины | Интерференция вторичных волн от разных участков одной щели. | Интерференция волн от большого числа одинаково расположенных щелей. |
| Условия минимумов и максимумов | Минимумы: a sin θ = mλ; центральный максимум расположен при m = 0. | Главные максимумы: d sin θ = mλ. |
| Роль размера отверстия или периода | Ширина a определяет угловую ширину центрального максимума. | Период d задаёт углы максимумов; число щелей влияет на их узость. |
| Вид центрального и боковых максимумов | Центральный максимум широкий и яркий, боковые слабее. | Максимумы узкие, яркие и хорошо разделённые. |
| Практическое применение | Демонстрация дифракции и оценка длины волны. | Спектральный анализ, измерение длин волн и разделение близких линий. |
Монохроматический свет с длиной волны 600 нм проходит через щель шириной 0,20 мм. Найдём угол первого минимума, используя условие для одной щели.
Ответ: θ ≈ 0,172°.
На решётку с 500 штрихами на миллиметр падает свет, а максимум второго порядка наблюдается под углом 36,9°. Требуется найти длину волны.
Ответ: λ = 600 нм.
Решётка имеет 600 штрихов на миллиметр и освещённую ширину 2 см. Проверим, сможет ли она в спектре второго порядка разрешить линии 600,000 и 600,025 нм.
Ответ: в идеальном случае решётка может разрешить эти линии, так как заданная разность не меньше предельной.
1. Считать дифракцию только огибанием препятствия. Так забывают, что светлые и тёмные участки возникают из-за интерференции вторичных волн. Проверьте себя: в объяснении должны присутствовать и отклонение волны, и её сложение.
2. Подставлять ширину щели a вместо периода решётки d или наоборот. Эти величины относятся к разным установкам и входят в разные формулы. Сначала определите, описывает ли условие одну щель или множество щелей.
3. Принимать центральный максимум за максимум первого порядка или считать минимум при m = 0. Центральный максимум имеет m = 0, а минимумы одной щели задаются ненулевыми целыми m. Сверяйте выбранное значение с физическим расположением полосы.
4. Не проверять существование найденного направления. Если расчёт даёт |sin θ| > 1, такой максимум или минимум невозможен. До вычисления угла оцените отношение λ/a или mλ/d.
Для изучения дифракции нужны длина волны, волновой фронт, интерференция и разность хода. Явление уточняет границы геометрической оптики, где свет считают распространяющимся прямолинейно. Дифракционные решётки применяют в спектральном анализе, для измерения длины волны и оценки разрешающей способности приборов.
Чем дифракция отличается от интерференции?
Интерференция — это результат наложения волн, который может возникать, например, от двух источников. Дифракция описывает огибание препятствий и распространение волны в область геометрической тени, но её картина также создаётся интерференцией вторичных волн.
Почему свет почти не огибает крупные препятствия?
Дифракция заметна, когда размер препятствия сравним с длиной волны. У видимого света длина волны очень мала, поэтому крупные предметы значительно больше неё и дают почти прямолинейное распространение.
Что означает порядок дифракционного максимума?
Порядок m показывает, насколько отличается разность хода волн, формирующих главный максимум: d sin θ = mλ. Центральный максимум имеет порядок m = 0, а по обе стороны от него располагаются максимумы первого, второго и последующих порядков.
Почему у дифракционной решётки максимумы уже, чем у одной щели?
У решётки свет проходит через большое число щелей, поэтому в направлениях главных максимумов складывается много волн. При небольшом отклонении от этого направления они быстрее гасят друг друга, и максимум получается более узким.
Как по дифракционной картине определить длину волны?
Нужно измерить угол θ, под которым наблюдается максимум или минимум, и знать период решётки либо ширину щели. Затем используют формулу d sin θ = mλ для решётки или a sin θ = mλ для минимума на одной щели.
§ 24. Дифракция электромагнитных волн