Содержимое раздела
Раздел посвящен методам характеризации наноматериалов для определения их структуры, размера, морфологии и физико-химических свойств. Рассмотрены методы электронной микроскопии (просвечивающая и растровая), атомно-силовой микроскопии, рентгеновской дифракции, спектроскопии (УФ-Вид, ИК, Раман), а также методы измерения удельной поверхности и распределения пор. Будет описано, как данные методы позволяют получить полную информацию о наноматериалах. Будут рассмотрены факторы, влияющие на результаты и их интерпретацию.